Odborné zaměření ústavu
- Problematika elektromagnetické kompatibility (EMC)
- Aplikace spektroskopických metod ve forenzních vědách (terahertzová, ramanova, luminiscenční)
- Analýza původnosti polovodičových součástek včetně měření jejich elektrických parametrů jako forenzních markantů.
- Analýza materiálů pomocí mikroskopických technik (AFM, SMM, SEM + EDS, LSCM) a aplikace moderních spektroskopických metod v bezpečnostních aplikacích.