Nabídka odborné spolupráce
- Měření EMC v bezodrazové komoře.
- Měření technických veličin v technologických procesech.
- Analýza materiálů pomocí mikroskopických technik (AFM, SMM, SEM + EDS, LSCM).
- Odhalování padělků elektronických součástek.
- Diagnostika číslicových systémů.
- Forenzní vědy v bezpečnostních aplikacích (terahertzová, ramanova a luminiscenční spektroskopie).